大型LED可編程交變濕熱試驗(yàn)箱可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于電子、電器、電池、塑膠、食品、紙品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、研究所、檢驗(yàn)檢疫局、大學(xué)等行業(yè)單位品管檢測之用。

   產(chǎn)品簡介：本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表、藥品、食品、零部件及材料在恒溫恒濕環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

大型LED可編程交變濕熱試驗(yàn)箱溫濕度控制器：

1）溫濕度控制儀表采用韓國進(jìn)口TEMI880——LCD觸摸屏操作簡單，程式編輯容易，無須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。

2）控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。

3）具有120組程式1200段999循環(huán)步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定為99小時(shí)59分。

4）資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)。

5）具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)等功能。

6）具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更穩(wěn)定。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)：

1.制冷機(jī)采用全封閉法國泰康（或半封閉德國谷輪）壓縮機(jī)。

2.冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式

高低溫濕熱試驗(yàn)箱風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)：

1.采用多翼式離心送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

2.風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。

3.采用可上、下、左、右調(diào)整導(dǎo)風(fēng)板，以保證溫、濕度均勻分布。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱加濕除濕系統(tǒng)：

1.加濕：外置隔離式全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器，通過加熱形成濕蒸氣加濕，通過探頭檢濕度。

2.除濕：采用蒸發(fā)器盤管露點(diǎn)溫度層流接觸除濕方式。

3.供水：隱藏式水箱供水，小水泵自動(dòng)抽水到加濕桶，可回收余水.節(jié)水降耗。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱加熱系統(tǒng)：

1.鰭片散熱管形鎳鉻合金不銹鋼電加熱器。制冷、循環(huán)、加濕、除濕、加熱系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

保護(hù)系統(tǒng)：

①附有無熔絲保護(hù)開關(guān)

②超溫、斷水時(shí),機(jī)器警示燈指示,自動(dòng)關(guān)機(jī),故障未排除時(shí),無法開機(jī).

③冷凍壓縮機(jī)附超溫與過負(fù)載保護(hù)裝置.

④風(fēng)扇馬達(dá)加裝過電流保護(hù)器.

大型LED可編程交變濕熱試驗(yàn)箱性能參數(shù)：

型號(hào)：BY-260TH-1000（T F S）

內(nèi)箱尺寸：寬1000×高1000×深1000mm；外箱尺寸：寬1520×高2050×深1470mm

內(nèi)箱規(guī)格：1000升

電源電壓：AC380V±10%；50Hz

--溫度范圍：-20℃~100℃ -40℃~100℃ -70℃~100℃

--濕度范圍：20%RH~98%RH

--溫濕度均勻度：≤2.0℃ ≤3.0%RH

--溫濕度波動(dòng)度：±0.5℃ ±2.5%RH

--升溫時(shí)間：每分鐘約1.0℃~3.0℃

--降溫時(shí)間：每分鐘約0.7℃~1.2℃

--溫濕度偏差：≤±1.5℃ ≤±2.5%RH

溫度偏差——溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。